Hitachi đã phát triển một công nghệ xử lý hình ảnh để kiểm tra các khuyết tật siêu nhỏ 10nm hoặc nhỏ hơn trong quy trình sản xuất chất bán dẫn với độ nhạy cao. Công nghệ này đã được công bố tại sự kiện "SPIE Advanced Lithography + Patterning 2025" được tổ chức từ ngày 23 đến ngày 27/2.
Trong...
